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SU-8 DFRシリーズ

高アスペクト比の構造形成に適したエポキシ系のフォトレジスト

SU-8 DFRシリーズは感光性のエポキシ樹脂ベースの永久膜用ネガ型ドライフィルムレジストです。

低ハロゲンエポキシ樹脂を使用し、アンチモンフリータイプとして設計されています。
キャビティパッケージのWall材やCap材(Roof材)、マイクロ流路用のLid材のような化学的及び熱的に安定した構造物を形成するために使用されます。

SU-8 DFR製品イメージ

SU-8 3000CF DFR

SU-8 3000CF DFRの主な特長

SU-8 3000CF DFRは、UV光でパターン形成可能なネガ型エポキシ系ドライフィルムレジストです。
半導体製造やMEMSデバイスに最適な性能を備えています。

  • 高精細なパターン形成:光リソグラフィ対応のネガ型フォトレジスト
  • 低ハロゲン仕様(全塩素量900ppm未満)+アンチモンフリー設計で環境に配慮
  • 高解像度・高アスペクト比:垂直プロファイル(20μm膜厚でアスペクト比3以上)
  • 優れた耐熱性:高温環境でも安定
  • 低温プロセス対応:ハードベーク180℃×1時間
  • 溶剤現像対応(PGMEA推奨)

これらの特性により、MEMS、SAW/BAWフィルター、半導体パッケージなど、
高精度かつ耐久性が求められるアプリケーションに広く使用されています。

SU-8 3000CF DFRの
製品フォーマット

フィルム構成

フィルム構成

外観

製品外観

※写真はイメージです。

製品仕様

スクロールできます。

SU-8 3000CF DFR
レジスト層 膜厚 20、30、45μm(その他ご要望に応じて対応可能)
レジスト幅 244mm
コア幅 270mm
ロール丈 25m
保証期間 9ヶ月
推奨保管条件 冷蔵 (15℃以下)

SU-8 3000CF DFRの製品特性

高精度リソグラフィ性能

SU-8 3000CF DFRは、i線(365nm)対応の化学増幅型ネガ型フォトレジストです。

  • 高UV透過率により、100μm以上の厚膜構造形成が可能
  • 垂直なパターンを安定的に得られる
  • 現像や硬化収縮による膜減りなしで高精度パターン形成を実現
高精度リソグラフィ性能

中空構造形成と厚膜対応

SU-8 3000CF DFRは、常温で半固形のシート状(ドライフィルム)フォトレジストです。

  • 下地の空洞を埋めずに貼り合わせが可能
  • 液体レジストでは難しい複雑構造や中空構造を容易に形成
  • DFR積層により、液状レジストでは困難な厚膜形成にも対応

適用例:SAW/BAWフィルター、TSV/TGV基板上への構造形成、MEMSデバイスなど

中空構造形成には、DFR特性とラミネーター条件の最適化が重要です。
日本化薬は、グループ会社のテイコクテーピングシステム社と連携し、お客様のニーズに合わせた最適なプロセスをご提案します。

中空構造形成と厚膜対応

物性表(参考値)

スクロールできます。

特性 単位 SU-8 3000CF DFR
ガラス転移温度(Tg)(DMA) 248
耐熱性(5% wt. loss temp. in Air) 346
接着強度(シェア強度 / Si上、20μm F.T.) MPa 40
引張強度(25℃) MPa 84
ヤング率(25℃) GPa 2.7
貯蔵弾性率(30℃, DMA) GPa 3.0
貯蔵弾性率(175℃, DMA) GPa 1.5
吸水率(85℃/85% RH, 24hr) % 0.4
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